Caracterización química, morfológica y estructural de materiales

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Overview

 Caracterización química, morfológica y estructural de materiales   es una obra que está enfocada a la descripción de técnicas de caracterización de materiales sólidos. El libro brinda al lector la oportunidad de conocer los principios fisicoquímicos involucrados en las técnicas de caracterización que se abordan, ilustra sobre la configuración y funcionamiento de los equipos y finalmente describe los métodos de análisis adecuados para la obtención de información química, morfológica y estructural de los materiales. El libro describe técnicas usadas para determinar la composición química elemental de la superficie de una muestra como son la espectroscopia Auger y el análisis del estado químico de un elemento mediante la espectroscopia de fotoelectrones ( xps ); de igual manera presenta la técnica de haces de iones para la determinación de la composición química elemental de un material en bloque (algunas micras). Un capítulo del libro está dedicado a describir las componentes y el funcionamiento del microscopio electrónico, para luego abordar la microscopia electrónica de barrido y de transmisión que permiten estudiar la morfología superficial de las muestras y la microestructura de los materiales. 

Product Details

ISBN-13: 9789587949117
Publisher: Universidad Nacional de Colombia
Publication date: 12/02/2022
Sold by: Bookwire
Format: eBook
Pages: 167
File size: 12 MB
Note: This product may take a few minutes to download.
Language: Spanish

Table of Contents

Lista de figuras Lista de tablas Acrónimos Prefacio 1.Análisis químico de materiales con haces de iones 1.1.Introducción 1.2.Espectroscopia rbs 1.3.Espectros rbs 1.4.Análisis de los espectros rbs experimentales con el software Xrump 1.5.Espectroscopia erd 1.6.Espectroscopia pixe Referencias 2.Espectroscopias de electrones para análisis de superficies 2.1.Introducción 2.2.Espectroscopia de electrones Auger 2.3.Espectros Auger 2.4.Series Auger 2.5.Determinación del estado químico de un elemento 2.6.Cuantificación de la composición química con Espectroscopia Auger (aes) 2.7.Espectrofotómetro Auger 2.8.Perfiles de composición Referencias 3.Espectroscopia de fotoelectrones (xps) 3.1.Fundamento físico de la técnica 3.2.Efecto del estado químico inicial y final en la determinación de la energía de ligadura 3.3.Estructura de un espectro xps 3.4.Análisis del espectro xps Referencias 4.Espectroscopias de rayos X dispersados 4.1.Introducción 4.2.Origen de los rayos X del continuo 4.3.Espectroscopia de longitudes de ondas dispersadas (wds) 4.4.Instrumentación utilizada en wds 4.5.Guías para hacer análisis cualitativo con wds 4.6.Espectroscopia de dispersión de energías de rayos X (edx) Referencias 5.Microscopías electrónicas 5.1.Introducción 5.2.Partes de un microscopio electrónico 5.3.Defectos de las lentes 5.4.Criterio de resolución Referencias 6.Microscopía electrónica de barrido 6.1.Introducción 6.2.Características de la imagen 6.3.Modos de operación del meb 6.4.Interacción del haz de electrones con la materia 6.5.Señales de la imagen desde el volumen de interacción 6.6.Electrones secundarios 6.7.Formación e interpretación de la imagen Referencias 7.Microscopia electrónica de transmisión 7.1.Introducción 7.2.Difracción de electrones en met 7.3.met de alta resolución 7.4.Patrones de difracción (pd) 7.5.Preparación de las muestras en met 7.6.Muestras de sección transversal Referencias
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