Charakterisierung Von Hf-Transistoren

Charakterisierung Von Hf-Transistoren

by Andreas Baur

Paperback

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Overview

Die Simulationsprogramme für Schaltungsaufbauten werden immer besser. Die Zuverlässigkeit der Simulation wird dabei durch die Genauigkeit der Element-Modelle bestimmt. Dieses Buch beschreibt die Messmethoden SOLT, TRL und Deembedding zur Modellbildung von HF-Kleinsignal-Transistoren. In einem angewandten Beispiel werden diese Methoden miteinander verglichen. Das Thema richtet sich an Ingenieure und Techniker, welche sich in die Theorie der Modellbildung vertiefen und sie in der Praxis einsetzen wollen.

Product Details

ISBN-13: 9783639360875
Publisher: VDM Verlag
Publication date: 06/10/2011
Pages: 100
Product dimensions: 6.00(w) x 9.00(h) x 0.24(d)

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