Depuis la première image en résolution atomique par microscopie à force atomique (AFM), les avancées de cette technique de champ proche permettent aujourd''hui de manipuler des atomes à température ambiante sur des surfaces conductrices ou isolantes. La compréhension du fonctionnement de cette machine complexe et l''optimisation des réglages des nombreux asservissements est un des objectifs de cet ouvrage. A cette fin, un formalisme analytique provenant des méthodes de l''Automatique non-li...


